半导体参数分析仪

品牌：中国概伦电子   型号：FS-Pro

1.仪器用途

探测器IV曲线测试；探测器CV曲线测试；薄膜场效应晶体管性能测试等；

2.主要技术指标

（1）电流测量分辨率最高到0.1fA；测量精度最高到30fA；

（2）电压测量分辨率最高到0.1μV，测量精度最高到30μV。

负责团队：光电感测与智能成像团队

联系人：胡慧成  15695280721